ザインがアドバンテストと協業し次世代高速Ｉ／Ｆテスト技術を確立と発表

　ザインエレクトロニクス<6769.T>がこの日の取引終了後、アドバンテスト<6857.T>との協業で、アドバンテストの高速自動テスタを用いて、ザインの次世代高速インターフェースの高速信号特性を実速度で測定できる高速テスト技術を確立したと発表した。４Ｋテレビや複合機などの産業機器などに搭載されているザインの高速インターフェース「Ｖ－ｂｙ－Ｏｎｅ　ＨＳ」は、信号特性を実速度でテストするために、送信用ＬＳＩ（ＴＸ）と受信用ＬＳＩ（ＲＸ）の両方を用意し、複数の計測機器を組み合わせながら行うことが必要で、テスト用基板の構成や制御方法が複雑になり、テスト環境の開発リソースが増大していた。今回開発した技術では、ＲＸが不要となり、実速度での高速信号特性テストを従来に比べて容易に行うことが可能となったとしている。


出所：株経通信（株式会社みんかぶ）